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001 006367
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245 10 $a Applied logistic regression / $c David W. Hosmer, Jr., Stanley Lemeshow.
260 ## $a New York : $b Wiley, $c c1989.
300 ## $a xiii, 307 p. ; $c 24 cm.
440 #0 $a Wiley series in probability and mathematical statistics. $p Applied probability and statistics
504 ## $a Incluye referencias bibliográficas (p. 291-300) e índice.
500 ## $a "A Wiley-Interscience publication."
020 ## $a 0471615536
100 1# $a Hosmer, David W.
700 1# $a Lemeshow, Stanley.
084 ## $a 62Jxx $2 msc2000
650 #0 $a Regression analysis.
010 ## $a ###89031893#
040 ## $a DLC $c DLC $d DLC
856 42 $3 Publisher description $u http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0607/89031893-d.html
856 41 $3 Table of contents only $u http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0607/89031893-t.html
856 42 $3 Contributor biographical information $u http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0607/89031893-b.html

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