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Libro

Applied logistic regression

David W. Hosmer, Jr., Stanley Lemeshow.

New York : Wiley, ©1989.

xiii, 307 págs. ; 24 cm.

Serie: Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics

ISBN: 0471615536

"A Wiley-Interscience publication."

Incluye referencias bibliográficas (p. 291-300) e índice.

 
Registro 006367 · Modificado: 19/03/2013

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